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品牌 | JK/嘉凱電子 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 能源,電子,交通,冶金,汽車(chē) |
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TDTF-3000 Analyzer 型擴(kuò)展型鐵電分析儀
關(guān)鍵詞:鐵電,電滯回線,脈沖,疲勞
TDT-3000 Analyzer型擴(kuò)展型鐵電分析儀 是一款的高速型模塊化鐵電壓電分析儀,具備鐵電、壓電、熱釋電材料所有基本特性測(cè)試功能,可與激光干涉儀和SPM掃描探針顯微鏡等微位移傳感器聯(lián)用,可廣泛地應(yīng)用于如各種鐵電/壓電/熱釋電薄膜、厚膜、體材料和電子陶瓷、鐵電傳感器/執(zhí)行器/存儲(chǔ)器等領(lǐng)域的研究。
模塊化設(shè)計(jì)的TDT-3000型鐵電分析儀 具有優(yōu)異的擴(kuò)展性,提供高達(dá)15中測(cè)試功能
TDTF-3000 Analyzer主要模塊標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試功能:
1、Dynamic Hysteresis 動(dòng)態(tài)電滯回線測(cè)試頻率(增強(qiáng)型FE模塊250kHz,高速增強(qiáng)型FE模塊1MHz);
2、Static Hysterestic 靜態(tài)電滯回線測(cè)試;
3、PUND 脈沖測(cè)試;
4、Fatigue 疲勞測(cè)試;
5、Retention 保持力;
6、Imprint 印跡;
7、Leakage current漏電流測(cè)試;
8、Thermo Measurement 變溫測(cè)試功能。
9、TSDC熱釋電測(cè)試功能
10、ECM電卡功能
11、RT電阻測(cè)量
12、POM油浴極化
FE模塊-鐵電標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試;
MR模塊-磁阻和鐵性材料測(cè)試;
RX模塊-弛豫電流測(cè)試;
DR模塊-自放電測(cè)試。
測(cè)試基本單元:包括內(nèi)置完整的專用計(jì)算機(jī)主機(jī)和測(cè)試版路、運(yùn)算放大器、數(shù)據(jù)處理單元等,Windows 10操作系統(tǒng)、鐵電分析儀專用測(cè)試軟件等。
升級(jí)擴(kuò)展FE模塊可選測(cè)試功能:
C-V curve電容-電壓曲線;
Piezo Measurement壓電性能測(cè)試;
Pyroelectric Measurement熱釋電性能測(cè)試;
In-situ Compensation 原位補(bǔ)償;
DLCC 動(dòng)態(tài)漏電流補(bǔ)償功能;
Impedance Measurement 阻抗測(cè)試 (僅適用于高速增強(qiáng)型)。
主要技術(shù)技術(shù)說(shuō)明:
電壓范圍: +/- 25 V(可選的附加高壓放大器可擴(kuò)展至+/- 10KV,20KV);
電荷測(cè)量解析度范圍: 0.80pC~5.26mC;
電荷分辨率:1u
材料測(cè)量面積解析度范圍0.080μm2 ~50cm2;
在使用外部高壓電源時(shí),測(cè)量電荷的最大解析度為526mC。
電滯頻率:增強(qiáng)型FE模塊250kHz,高速增強(qiáng)型FE模塊1MHz;
最小脈沖寬度:50ns;
最小上升時(shí)間:10ns;
最大疲勞頻率:16MHz;
電流放大范圍:1pA~1A;
最大負(fù)荷電容:1nF;
輸出電流峰值:+/-1 A。
輸入阻抗:等效阻抗
小信號(hào)頻率:500KHZ
大信號(hào)頻率:1MHZ
信號(hào)轉(zhuǎn)換效率:28位(高精度采集)
MR模塊是用來(lái)研究磁阻和鐵性材料的。
此模塊提供連續(xù)電流激勵(lì)和測(cè)試,樣品上的電壓降通過(guò)高精度四點(diǎn)測(cè)試。
RX模塊是用來(lái)研究介電體和鐵電材料的極化和去極化電流的,即施加電壓階躍后的電流響應(yīng)。
該測(cè)試能將材料的馳豫電流和漏電流分開(kāi),并可記錄極化響應(yīng)電流和去極化響應(yīng)電流。
DR模塊用于研究電介質(zhì)材料的自漏電性。
由于測(cè)試條件非常接近實(shí)際情況,因此通過(guò)這種方式可容易地測(cè)試應(yīng)用于DRAM材料的合適性。
針對(duì)工業(yè)方面的應(yīng)用,TDTF-3000 Analyzer提供了256個(gè)自動(dòng)測(cè)試的通道,大大擴(kuò)展了該儀器的測(cè)試功能。
以上所有的模塊可根據(jù)您的測(cè)試需求以及科研方向進(jìn)行獨(dú)立選擇或者任意組合。
優(yōu)勢(shì):
1、高集成電路模塊,采集電壓電流各項(xiàng)指標(biāo),運(yùn)行速度快,采集率高提供了高集成電路陶瓷基板技術(shù)(HCT),為NASA提供了解決方案。在可承受平流層的特殊環(huán)境而且耐用的氧化鋁基板上,我們運(yùn)用氮化鉭實(shí)現(xiàn)了20μm寬度的高精密電路
2、全面的測(cè)試功能
3、
DH動(dòng)態(tài)電滯回線功能,SH靜態(tài)電滯回線功能,PUND 脈沖測(cè)試,Retention 保持力,Leakage current漏電流測(cè)試
4、 全過(guò)程質(zhì)量管理與測(cè)試
原材料和外購(gòu)件的質(zhì)量控制-嚴(yán)肅工藝紀(jì)律-驗(yàn)證工序能力-工序檢驗(yàn)-驗(yàn)證狀態(tài)的控制-儀器合格
優(yōu)勢(shì)五、完善的售后服務(wù)體系
產(chǎn)品保修5年,終身維護(hù),24小時(shí)接聽(tīng)技術(shù)問(wèn)答,前期的技術(shù)溝通和免費(fèi)的來(lái)樣驗(yàn)證測(cè)試,讓您的測(cè)試放心。
可擴(kuò)展部件:
高壓放大器、激光干涉儀、AFM、溫度控制器、薄膜探針冷熱臺(tái)、變溫塊體樣品盒、塊體變溫爐、薄膜e31測(cè)試平臺(tái)、超導(dǎo)磁體、PPMS、阻抗分析儀等。