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HTCAS-300型高溫超導材料交流磁化率測量儀

GWTF-300高溫鐵電材料性能測試系統(tǒng)是一套建立在高溫高壓下的鐵電測量系統(tǒng)，旨在針對一些特殊的要求材料需要在高溫下測量而研發(fā)的一套鐵電測量系統(tǒng)。該系統(tǒng)不僅僅在溫度上將實現(xiàn)了高溫測試，而且在電壓和頻率上進行了提高，對我們的鐵電材料研究和測試帶來更加重要的幫助。該系統(tǒng)可以測量鐵電材料的電滯回線，飽和極化Ps、剩余極化Pr、矯頑場Ec、漏電流、疲勞、保持、I-V和開關(guān)特性等性能的測試。

GWST-1000型高溫四探針綜合測試系統(tǒng)（包含薄膜，塊體功能）是為了更方便的研究在高溫條件下的半導體的導電性能，該系統(tǒng)可以*實現(xiàn)在高溫、真空及惰性氣氛條件下測量硅、鍺單晶（棒料、晶片）電阻率和外延層、擴散層和離子層的方塊電阻及測量其他方塊電阻。

HTRS-1000型高溫半導體材料電阻率測試儀主要用于半導體材料導電性能的評估和測試，該系統(tǒng)采用四線電阻法測量原理進行設計開發(fā)，可以在高溫、真空氣氛的條件下測量半導體材料電阻和電阻率，可以分析被測樣品電阻和電阻率隨溫度、時間變化的曲線。目前主要針對圓片、方塊、長條等測試樣品進行測試，可以廣泛用于半導體材料硅（si）、鍺（ge）,化合物半導體材料砷化鎵（GaAs）、銻化銦（InSb），三元化合物半導

HTIM-1000高溫絕緣材料電阻率測試儀/GB-T10581-2006絕緣材料在高溫下電阻和電阻率主要用于評估測量絕緣材料電學性能，該系統(tǒng)采用三環(huán)電極法設計原理并結(jié)合GB-T 10581-2006 絕緣材料在高溫下電阻和電阻率試驗方法標準設計開發(fā)，可以直接測量高溫、真空、氣氛條件下樣品的電阻和體電阻率、漏電流等隨溫度、時間變化的曲線，高溫絕緣材料電阻率測試儀系統(tǒng)已經(jīng)在航天航空傳感器領(lǐng)域得到很好的

PRPM-1000熱釋電系數(shù)高溫測試系統(tǒng) 關(guān)鍵詞：熱釋電，激光，紅外 熱釋電材料目前主要用于紅外、激光等熱釋電探測領(lǐng)域,也廣泛地使用在各類輻射計,光譜儀,以及紅外、激光探測器等方面。而熱釋電系數(shù)是測定紅外探測器工作特性的主要參數(shù)之一。PRPM-1000熱釋電系數(shù)高溫測試系統(tǒng)采用高精度進口的設備采集分析數(shù)據(jù)，對熱釋電系數(shù)能夠準確的測試.