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當(dāng)兩種不同導(dǎo)體構(gòu)成閉合回路時(shí)，如果兩個(gè)接點(diǎn)的溫度不同，則兩接點(diǎn)間有電動(dòng)勢(shì)產(chǎn)生，且在回路中有電流通過，即溫差電現(xiàn)象或塞貝克效應(yīng)。 熱電材料（也稱溫差電材料(thermoelectric materials））是一種利用固體內(nèi)部載流子運(yùn)動(dòng)，實(shí)現(xiàn)熱能和電能直接相互轉(zhuǎn)換的功能材料，熱電效應(yīng)是電流引起的可逆熱效應(yīng)和溫差引起的電效應(yīng)的總稱，包括塞貝克（Seebeck）效應(yīng)、波爾貼（Peltier）效應(yīng)和湯姆

GDPT-900A型變溫壓電d33測(cè)量系統(tǒng)是我院研制的即可低溫測(cè)試D33系數(shù)，又可以高溫測(cè)試D33系數(shù)。主要是針對(duì)高低溫壓電陶瓷材料和薄膜材料的測(cè)試。 二、主要應(yīng)用領(lǐng)域：無(wú)損檢測(cè)超聲檢測(cè)，醫(yī)療超聲檢測(cè)，航空航天，石油天然器，汽車物聯(lián)網(wǎng)，，工業(yè)

d33測(cè)量范圍： ×1擋：10到2000pC/N，20 至4000pC/N，可以升級(jí)到10000PC/N. ×0.1擋： 1到200pC/N，2 至400pC/N。 可以配套PZT-JH10/4/8/12型壓電極化裝置使用 可以配套ZJ-D33-YP15壓電壓片機(jī)使用 誤差：×1擋：±2%±1個(gè)數(shù)字，當(dāng)d33在100到4000pC/N； *計(jì)量標(biāo)定標(biāo)準(zhǔn)樣尺寸：18mm*0.8mm，

TZTFE-2000薄膜鐵電測(cè)試儀是一款應(yīng)用于薄膜材料的鐵電性能測(cè)試的設(shè)備，該設(shè)備具有動(dòng)態(tài)電滯回線(DHM)、I-V特性、脈沖(PUND)、靜態(tài)電滯回線(SHM)、疲勞(FM)、漏電流(LM)、電流-偏壓、保持力(RM)、印跡(IM)的測(cè)試功能.，可廣泛地應(yīng)用于如各種鐵電/壓電/熱釋電薄膜、厚膜、體材料和電子陶瓷、鐵電傳感器/執(zhí)行器/存儲(chǔ)器等領(lǐng)域的研究。

關(guān)于近代物理學(xué)所擴(kuò)展新實(shí)驗(yàn)設(shè)備(ZJ-3壓電，TDZT-04C鐵電，DLT-01 Dielectric tester型介電測(cè)試儀) 近代物理實(shí)驗(yàn)室現(xiàn)有實(shí)驗(yàn)室面積約800平方米，總資產(chǎn)達(dá)1200多萬(wàn)元，涉及原子物理、原子核物理、固體物理、凝聚態(tài)物理、磁學(xué)、光學(xué)、真空技術(shù)、當(dāng)代新興物理實(shí)驗(yàn)技術(shù)等領(lǐng)域的綜合設(shè)計(jì)性項(xiàng)目30個(gè)，為學(xué)生開設(shè)80學(xué)時(shí)的必修課程。另有微結(jié)構(gòu)材料設(shè)計(jì)與性能模擬平臺(tái)一個(gè)，用于進(jìn)行虛

HTRC-800型高溫導(dǎo)電材料電阻率測(cè)試系統(tǒng)是一款用于測(cè)量材料電阻，電導(dǎo)率的專用設(shè)備，采用由四端測(cè)量方法測(cè)試電阻率系統(tǒng)與高溫試驗(yàn)箱為一體的專用的高溫測(cè)試系統(tǒng)，滿足半導(dǎo)體及導(dǎo)體材料因溫度變化對(duì)電阻值變化的 測(cè)量要求，通以在高溫 、真空、氣氛的條件下測(cè)量導(dǎo)電材料電阻和電阻率，可以分析被測(cè)樣的電阻和電阻率隨溫度、 時(shí)間變化的曲 線． 目前主要針對(duì)圓片、方塊、長(zhǎng)條等樣品進(jìn)行測(cè)試，可以廣泛用于碳