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鐵電材料測(cè)試的相關(guān)知識(shí)介紹

更新時(shí)間:2024-11-20  |  點(diǎn)擊率:279
鐵電材料是一類具有自發(fā)極化并能在外部電場(chǎng)作用下反轉(zhuǎn)其極化方向的材料。它們?cè)陔娮悠骷?、傳感器和能量存?chǔ)系統(tǒng)等領(lǐng)域展現(xiàn)出廣泛的應(yīng)用潛力。為了充分挖掘這些材料的潛力,了解其特性并進(jìn)行準(zhǔn)確測(cè)試至關(guān)重要。
 
  鐵電材料測(cè)試的相關(guān)知識(shí)介紹:
  -介電常數(shù)測(cè)量:介電常數(shù)是衡量材料儲(chǔ)存電荷能力的指標(biāo),對(duì)于鐵電材料而言,這一參數(shù)尤為重要,因?yàn)樗苯佑绊懙讲牧系臉O化性能。

 

-損耗因子測(cè)定:損耗因子反映了材料在交變電場(chǎng)下能量損耗的程度,是評(píng)估材料效率的重要參數(shù)。
 
  -電阻率檢測(cè):電阻率決定了材料在電場(chǎng)作用下的導(dǎo)電能力,對(duì)于鐵電材料的穩(wěn)定性和可靠性具有重要意義。
 
  -適用性問題:不同的鐵電材料體系可能需要特定的測(cè)試條件和方法,因此選擇合適的鐵電分析儀對(duì)于獲得準(zhǔn)確可靠的測(cè)試結(jié)果至關(guān)重要。
 
  -電極化電場(chǎng):通過電極與樣品之間的電場(chǎng)作用,可以誘導(dǎo)鐵電材料的極化,從而研究其電學(xué)行為。
 
  -微觀機(jī)制:鐵電材料的特性不僅取決于其宏觀結(jié)構(gòu),還受到微觀機(jī)制的影響,如晶格缺陷、相變等。
 
  -耐久性評(píng)估:通過長(zhǎng)時(shí)間的循環(huán)加載,可以模擬鐵電材料在實(shí)際應(yīng)用中的工作環(huán)境,從而評(píng)估其耐久性和穩(wěn)定性。
 
  -溫度控制器:溫度的變化會(huì)影響鐵電材料的極化行為,因此需要準(zhǔn)確控制測(cè)試環(huán)境的溫度。
 

  總的來說,鐵電材料測(cè)試是一個(gè)復(fù)雜而精細(xì)的過程,涉及多個(gè)方面的考量。通過對(duì)這些材料的深入了解和準(zhǔn)確測(cè)試,人們能夠更好地利用其特殊的物理特性,推動(dòng)科技進(jìn)步和工業(yè)發(fā)展。


TDWFE-6000型鐵電溫譜測(cè)儀

 

關(guān)鍵詞:電滯回線 ,鐵電測(cè)試儀,電壓,頻率 ,電致應(yīng)變,蝴蝶曲線

 

 

  

一、產(chǎn)品介紹:

    TDWFE-6000型鐵電溫譜測(cè)儀是一款高量程款的鐵電性能材料測(cè)試裝置,這款設(shè)備可以適用于鐵電薄膜、鐵電體材料(既可塊體材料)的電性能測(cè)量,可測(cè)量鐵電薄膜電滯回線、可測(cè)出具有非對(duì)稱電滯回線鐵電薄膜值??梢赃M(jìn)行電致應(yīng)變測(cè)試,可以蝴蝶曲線功能,設(shè)備還可以擴(kuò)展高溫電阻,高溫介電,電容-電壓曲線,TSC/TSDC等功能。本儀器是從事壓電材料及壓電元件生產(chǎn)、應(yīng)用與研究部門的重要設(shè)備之一,已經(jīng)在各大高校和科研院所廣泛使用。

二、主要技術(shù)指標(biāo):

1、輸出信號(hào)電壓::±10KV

2、溫度;室溫-200℃,控溫精度:±1℃

3、控制施加頻率0.01到250KHz(陶瓷、單晶,薄膜)PC端軟件控制自定義設(shè)置;

4、控制輸出電流0到±50mA連續(xù)可調(diào),PC端軟件控制自定義設(shè)置。

5、動(dòng)態(tài)電滯回線測(cè)試頻率范圍 0.01Hz-5kHz

7、最小脈寬保持時(shí)間為20us;最小上升沿時(shí)間為10us;

8、疲勞測(cè)試頻率500kHz(振幅10 Vpp,負(fù)載電容1 nF);使用高壓放大器后疲勞頻率最高5kHz; 

9、測(cè)試速度:測(cè)量時(shí)間《5秒/樣品•溫度點(diǎn)

10、樣品規(guī)格:塊體材料尺寸:直徑2-100mm,厚度0.1-10mm

11、主要功能: 動(dòng)態(tài)電滯回線DHM靜態(tài)電滯回線SHM,I-V特性,脈沖PUND,疲勞Fatigue,電擊穿強(qiáng)度BDM,漏電流LM,電流-偏壓保持力RM,

10. 電荷解析度不小于10 mC;

漏電流測(cè)量范圍:1pA~ 20 mA,分辨率不低于0.1pA;

12、薄膜測(cè)試功能:配置薄膜測(cè)試變溫探針臺(tái)一套,電子顯微鏡一套,高壓放大器±100V 一臺(tái),溫度范圍:室溫~400度。

13、 樣品厚度:30nm~1mm,測(cè)試頻率0.01Hz~100kHz@0~±100V

連續(xù)可調(diào),及相應(yīng)的電壓電路系統(tǒng);

14、控制方式:計(jì)算機(jī)實(shí)時(shí)控制、實(shí)時(shí)顯示、實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)計(jì)算、分析與存儲(chǔ)

15、軟件采集:自動(dòng)采集軟件,分析可以兼容其他相關(guān)主流軟件。

16、測(cè)試精度:±0.05%

17、內(nèi)置電壓:±20V

18、 可擴(kuò)展激光干涉儀,進(jìn)行電致應(yīng)變測(cè)試 位移精度50nm;

19、激光非接觸式測(cè)量;

20、實(shí)現(xiàn)應(yīng)變曲線顯示與記錄;

21、 電壓范圍0到±5 kV;

22、最大量程2mm;